，電源管理芯片AC-DC芯片內(nèi)部包含了許多相對獨(dú)立的部分，要實(shí)現(xiàn)對每個(gè)部分相關(guān)參數(shù)進(jìn)行測試，都需要設(shè)計(jì)專用的測試線路來囊括所有的測試項(xiàng)目，所以就需要測試系統(tǒng)有相應(yīng)的配套，例如測試時(shí)間參數(shù)的測量路線(TMU)、測試輸出特性的精密量單元（PMU）等，而且AC-DC芯片需的參數(shù)包含了不同類型的物理量，如頻率量、時(shí)間量、電壓量、電流量等，另外還包含某些需要掃描測試的閥值量，因此再測試系統(tǒng)中具備針對于不同部分和不同物理量的專用測試路線。
第三，由于acdc開關(guān)電源管理芯片內(nèi)部各組成模塊是相互的作用，所以某一項(xiàng)參數(shù)經(jīng)行測試時(shí)，需要考慮其他模塊對其的影響，這就是需要考慮整個(gè)器件的工作模式以及各個(gè)子模塊在工作模式下的相互關(guān)系。
第四，電源管理芯片由于AC-DC芯片的某些參數(shù)測試比較敏感，要求測試路線與被測電路之間的外圍不能距離太大，或者在測試的過程中，某些管腳的一些小狀態(tài)就會(huì)影響到該參數(shù)的測試準(zhǔn)確性，甚導(dǎo)致功能消失，所以在設(shè)計(jì)測試方案的時(shí)候就需要考慮一些控制為的外圍路線如何處理額問題。
基于以上分析和其他的一些因素，目前國內(nèi)除銀聯(lián)寶科技IC廠家外并沒有能夠完成所有AC-DC電源管理芯片測試的一套理想測試系統(tǒng)，目前的設(shè)備基本上只能測試基本的直流參數(shù)、時(shí)間參數(shù)等，并不能很好的滿足AC-DC芯片生產(chǎn)和應(yīng)用的測試要求。
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